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LED壽命與老化測(cè)試

一、LED老化試驗(yàn)(SMD)

LED老化試驗(yàn)儀針各種貼片LED的進(jìn)行多路老化試驗(yàn),且每路具有獨(dú)立恒流源。儀器具有三種老化方式,在恒流和沖擊老化方式下顯示正向電流的電流值、頻率或占空比;在開關(guān)老化方式下,顯示開關(guān)次數(shù)。并對(duì)老化時(shí)間進(jìn)行顯示記錄。

系統(tǒng)組成

CHL-120 LED老化試驗(yàn)儀,LED老化試驗(yàn)儀專用夾具,LED老化試驗(yàn)儀專用軟件,PC機(jī)組成。


CHL-120老化.jpg



二、LED加速老化試驗(yàn)儀

加速老化試驗(yàn)儀專門針對(duì)LED老化試驗(yàn)。電流、頻率、占空比、老化時(shí)間均智能可調(diào),配備6組獨(dú)立恒流電源對(duì)60個(gè)不同工位LED進(jìn)行單獨(dú)供電。相關(guān)測(cè)試參數(shù)可根據(jù)用戶需要自由設(shè)定。從而實(shí)現(xiàn)LED額定要求條件下的常規(guī)老化試驗(yàn)和過(guò)載沖擊條件下的加速老化試驗(yàn)。儀器具有可靠性好、調(diào)節(jié)方便、壽命長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn),是LED老化試驗(yàn)的首先產(chǎn)品。   

系統(tǒng)組成

CHL-600 加速老化試驗(yàn)儀,CHL-600 加速老化試驗(yàn)儀專用測(cè)試夾具,加速老化試驗(yàn)儀專用軟件,PC機(jī)等組成。


CHL-600LED老化.jpg


三、LED燈具加速老化和壽命測(cè)試系統(tǒng)

LED燈具加速老化和壽命測(cè)試系統(tǒng)主要用于LED模組或LED燈具的常規(guī)老化、加速老化、光通維持特性試驗(yàn)、溫度特性試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、顏色偏移測(cè)試,并具 備LED模塊或燈具壽命推算及預(yù)估功能。系統(tǒng)主要參考IES LM-80-08標(biāo)準(zhǔn)及IES TM-21-11標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)。安裝在上位機(jī)內(nèi)的 LTS-3000 燈具加速老化和壽命測(cè)試系統(tǒng)軟件可通過(guò)RS232或RS485串行通訊接口程序控制本系統(tǒng),控制過(guò)程中可逐個(gè)點(diǎn)亮或全部點(diǎn)亮被測(cè)光源, 本系統(tǒng)最多可控制16個(gè)被測(cè)光源,上位機(jī)逐個(gè)點(diǎn)亮被測(cè)光源時(shí),可通過(guò)WT105 數(shù)字電參數(shù)測(cè)量?jī)x、CHL-3 LED光色快速測(cè)試儀、TMP-X 多路 溫度巡檢儀將被點(diǎn)亮的LED燈具的光、色、電、溫度(燈具殼溫)特性參數(shù)通過(guò)相同的串行通訊接口傳回上位機(jī)。再由上位機(jī)內(nèi)的LTS-3000 燈具加速老 化和壽命測(cè)試系統(tǒng)軟件分析各個(gè)被測(cè)LED燈具的光通維持特性、溫度特性、壽命特性、顏色偏移等,再根據(jù)IES TM-21-11推算。

系統(tǒng)組成

由 LTS-3000 燈具加速老化和壽命測(cè)試系統(tǒng)軟件、WT105 數(shù)字電參數(shù)測(cè)量?jī)x、CHL- 3 LED光色快速測(cè)試儀、CHP-XXX交流變頻測(cè)試穩(wěn)壓電源、TMP-X 多路溫度巡檢儀、高低溫試驗(yàn)箱、CHCP-18 多路供電控制系統(tǒng)、19英寸標(biāo)準(zhǔn)機(jī)柜、MCB-III多路通訊集成器組成。


LTS3000老化與壽命.jpg

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